จำหน่าย_ขาย และบริการกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และ EDS

จำหน่าย_ขาย และบริการ SEM (Scanning Electron Microscope)และ EDS (Energy Dispersive X-ray) ,SemAfore, SPUTTER Coater มือสอง สภาพดีมาก พร้อมติดตั้ง และสอนใช้งาน, SEM กำลังขยายสูง สามารถดู SEI,BEI,COMPO,TOPO โหมด EDS Full Option พร้อมโปรแกรม SemAfore ดึงภาพดิจิตอล,วัดขนาด และเครื่องฉาบเคลือบทอง Sputter Coater จำหน่ายทั้งชุด

SEM for sale1
SEM for sale1

รายละเอียด :

SEM (Scanning Electron Microscope) JEOL

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
Scanning electron microscope, SEM

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,SEM ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM 1.ภาพแบบ SEI (Secondary electron image)

SEI Image
SEI Image
Latex SEI Image
Latex SEI Image

2.ภาพแบบ BEI (Backscattered electron image) 2.1 BEI ภาพแบบ COMPO (compositional mode) แยกความแตกต่างตาม atomic number, Z

PbSn BEI COMPO  Image  2
PbSn BEI COMPO Image 2

2.2 BEI ภาพแบบ TOPO (topographic) ภาพแบบมีมิติ,3มิติ

PbSn BEI TOPO  Image 2
PbSn BEI TOPO Image 2

2.3 BEI ภาพแบบ SHADOW (COMPO/TOPO+SHADOW)

PbSn BEI COMPO +Shadows Image  2
PbSn BEI COMPO +Shadows Image 2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image  2
PbSn BEI TOPO +Shadows Image 2

SEM Mode ที่บริการ
1.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode) 2.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode) 3.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ 4.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ

* LV SEM หรือ Low vacuum เป็นศัพท์เทคนิคการใช้SEM ในโหมดสุญญากาศต่ำของ SEM ยี่ห้อ JEOL ส่วนศัพท์เทคนิค ของ SEMยี่ห้ออื่นๆจะมีศัพท์เทคนิคเช่น VP SEM, E SEM, EP SEM, N SEM, WET SEM การทำงานของเครื่องSEM จะเหมือนๆกัน สามารถดูตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้ ตัวอย่างมีความชื้นอยู่บ้างไม่มาก และเป็นการไม่ทำลายตัวอย่าง

– Filament แบบทังสเตน(W) K-Type

– กำลังขยาย X15 – X200,000 เท่า

– SEI Image resolution 3.5 nm.

– BEI Image resolution 4.5 nm. TOPO Mode, COMPO Mode,

– High Vacuum mode

– Low Vacuum mode (BEI)ไม่ต้อง coating ตัวอย่างก่อนเข้า SEM

EDS (Energy Dispersive X-Ray) OXFORD

– Detector Resolution 133 ev.

– วิเคราะห์ได้ตั้งแต่ B(โบรอน) – U(ยูเรเนียม)

– Detection limit 0.1 % สามารถวิเคราะห์ %ธาตุได้ตังแต่ 0.1%ขึ้นไป

– วิเคราะห์เชิงคุณภาพ Qualitative

– วิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative

– Mapping และ Line scan แบบ Speed map

– Quant Mapping และQuant Line scan แบบ Quant

– Phase measurement

– Area Measurement

– Cameo

– Beam Track

– Auto Beam

EDS Services วิเคราะห์ะธาตุ เชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ (Qualitative and Quantitative analysis) ตั้งแต่ธาตุ Bโบรอน- U ยูเรเนียม, Detection limit 0.1%

การวิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative การวิเคราะเชิงปริมาณ Quantitative Analysis หาปริมาณ%ธาตุในตัวอย่าง, Element% ,Atomic%

sem quant
sem quant หาปริมาณ element%, atomic %
sem quant 1sp
Qualitative analysis
sem quant
sem quant , Quantitative analysis
sem quant , Quantitative analysis
sem quant , Quantitative analysis
sem quant
sem quant , Quantitative analysis แบบกราฟแท่ง
sem quant 5
sem quant , Quantitative analysis

การวิเคราะเชิงคุณภาพ  Qualitative Analysis สามารถวิเคราะห์ได้ตั้งแต่ธาตุ B ถึง U ตามตารางธาตุ Resolution 133 ev.

Identify EDS peak
Identify EDS peak
spectrum copy
X-ray spectrum copy
spectrum printing
spectrum printing
EDX X-ray spectrum
EDS X-ray spectrum, Qualitative analysis
spectrum zoom
spectrum zooming

วิเคราะห์แบบ Mapping ธรรมดา(Speed mapping)

วิเคราะห์แบบ Mapping (Speed maping) Speed maping ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

Mix Mapping

speed mapping
speed mapping

Speed mapping

speed map 2
speed map 2

Mix Mapping

speed mapping
speed mapping

การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed Linescan)

การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed linescan)  Speed linescan ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

linescan mix
linescan mix รวม Linescan กับภาพ

Mix Linescan

linescan mix
linescan mix , Element mix
linescan mix
linescan mix 2 element with Autobeam image
linescan mix4
linescan mix, Line บนภาพ Autobeam

Speed Linescan

linescan1
ลากเส้นกำหนดตำแหน่งทำ linescan

Speed Linescan

linescan 4 ธาตุ
Speed line scan แกน Yจะบอกเป็น cts.(ไม่เหมือนQuant linescan บอกเป็น %element.)

Quant Mapping ใช้เวลาทำ  4-6 ชม. /ตำแหน่ง

*     Mapping แบบ Speed map ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง

** ติดต่อเจ้าหน้าที่ขอรายละเอียดเพิ่มเติมกรณีทำ Quant Mapping ค๊ะ

Quant mapping 1
Quant mapping 1
Quant mapping2
Quant mapping ระดับสีจะบอกถึง %element

Quant Line Scan

Quant Line Scan

Quant line scan 1
Quant line scan 1
Quant line scan 2
Quant line scan แกน Yจะบอกเป็น %element (ไม่เหมือนSpeed บอกเป็น cts.)

Quant Line Scan แบบ Mix

Quant line scan mix1
Quant line scan mix1
Quant line scan mix2
Quant line scan mix2

รูป Auto Beam แบบ 1 Point และ Area analysis

auto beam1
auto beam แบบ Area
auto beam
auto beam แบบ Area 2

Auto Beam แบบกำหนดจุด 1 จุด

point analysis
point analysis / Autobeam 1 point

Muti point Analysis

Muti point Analysis (เชิงปริมาณ)

Auto beam track
Auto beam track, multi point, 6 point
Auto beam track7 results
Auto beam track results เชิงปริมาณ
sem quant
sem quant เชิงปริมาณ, %element

Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)

Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)

Auto beam track1

X-Ray analysis
X-Ray analysis1
Auto beam track3
Auto beam track spectrum 6 point

Muti point Analysis (เชิงปริมาณแบบหาค่าเฉลี่ย จากทุกจุดที่ยิง)

Auto beam track6 aver
Auto beam track แบบหาค่าเฉลี่ย 6 จุด

Area Measurement

area measurement
area measurement วัดหาพื้นที่ของภาพออกมาเป็น %

CAMEO Analysis

CAMEO Analysis
CAMEO Analysis ,สีแดงย่าน kev ต่ำ ส่วนสีฟ้า kevสูง
cameo
cameo

Phase Measurement

Phase Measurement
Phase Measurement วัดเพสของตัวอย่างออกมาเป็น %

SemAfore Ver 5.0 JEOL

– ดึงภาพดิจิตอลไฟล์จากเครื่อง SEM เป็นไฟล์ .BMP, JPEG, PNG, TIFF และอื่นๆได้

– สามารถวัดขนาดตัวอย่างได้

– สามารถวัดพื้นที่ตัวอย่างได้

– สามารถวัดมุมตัวอย่างได้

– สามารถใส่Text บนตัวอย่างได้

– สามารถนับจำนวนตัวอย่างได้

SPUTTER COATER Fison VG Microtech

– สำหรับฉาบเคลือบทองบนผิวตัวอย่าง เพื่อให้นำไฟฟ้า ก่อนเข้าเครื่อง SEM ใช้อาร์กอนช่วยในการฉาบเฉลือบให้สมบูรณ์ยิ่งขึ้น

– สามารถลดความชื้นตัวอย่างที่มีความชื้นสูง ก่อนนำเข้า SEMได้

อื่นๆ

– พร้อมติดตั้ง ทั่วประเทศ โดยช่างชำนาญการที่มากประสบการณ์ ผ่านงานด้าน SEM/EDS

– อบรมการใช้เครื่อง On site ให้ 3 วัน

– PM/ Column cleaning ให้ฟรี 1 ครั้ง ภายในระยะเวลา 1 ปี

****  เครื่องนี้จำหน่ายแล้วค่ะ ****

สนใจสอบถามราคาและรายละเอียดเพิ่มเติม

** รายละเอียดเพิ่มเติมคลิก

www.dosem24hr.com บริการเครื่อง SEM,EDS ทุกวัน 24 ชั่วโมง

สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก
แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก
เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก
วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก
มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก
การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก
วิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
ผงชูรส และผงปรุงรส คลิก
วิเคราะห์สิว ด้วยกล้องจุลทรรศน์ คลิก
ความมหัศจรรย์ของหนวดหรือเคราฤาษี คลิก
ปากดีของมดดำ คลิก
ผมมันชั่ว ผมมันเลว คลิก
ฟองน้ำ ฟองน้ำ คลิก
เชื่อหรือไม่ว่าคือขนมปัง คลิก
แกงไก่หน่อไม้ดอง  คลิก
มาจุดธูปขอหวยกัน คลิก
พระเครื่องเก่าแก่ คลิก
บ้านและสวนสวย คลิก

ใส่ความเห็น

Fill in your details below or click an icon to log in:

WordPress.com Logo

You are commenting using your WordPress.com account. Log Out / เปลี่ยนแปลง )

Twitter picture

You are commenting using your Twitter account. Log Out / เปลี่ยนแปลง )

Facebook photo

You are commenting using your Facebook account. Log Out / เปลี่ยนแปลง )

Google+ photo

You are commenting using your Google+ account. Log Out / เปลี่ยนแปลง )

Connecting to %s