วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนอุตสาหกรรม แบบไม่ทำลายตัวอย่าง

วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนอุตสาหกรรม แบบไม่ทำลายตัวอย่าง

การวิเคราะห์แบบไม่ทำลายตัวอย่าง บทวิเคราะห์นี้หมายถึง การที่เรานำตัวอย่างมาทดสอบด้วย กล้องจุลทรรศน์จุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปหรือเครื่อง SEM นั้น เราจะไม่นำตัวอย่างไป ฉาบเคลือบสารใดๆให้ตัวอย่างนั้นนำไฟฟ้าเลย ไม่ว่าจะฉาบเคลือบด้วยคาร์บอน,ทอง,พาลาเดียม หรือไททาเนียม เราสามารถนำตัวอย่างที่วิเคราะห์ด้วยวิธีนี้ ไปทดสอบกับเครื่องมืออื่นๆได้ต่อ หรือแม้แต่สามารถนำกลับไปใช้งานได้ ดังเช่นตัวอย่างที่เรานำมาทดสอบกัน กับบทความนี้

การทดสอบแบบไม่ทำลายตัวอย่าง สามารถทดสอบวิเคราะห์ วัสดุได้ทุกประเภท จะนำไฟฟ้าได้ นำไฟฟ้าได้บ้าง หรือไม่นำไฟฟ้าเลยก็ได้ เช่นอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ไฟฟ้า วัสดุยานยนต์ โลหะ เซรามิก ปูนซีเมนต์ งานทดสอบความเสียหายของวัสดุ ชีววิทยา พืช สัตว์ และอื่นๆ ทดสอบอะไร ได้บ้างลองติดต่อห้องปฏิบัติการ SEM/EDSทาง www.dosem24hr.com กันดูนะครับ

ตัวอย่างที่นำมาทดสอบ และวิเคราะห์คือ RAM ที่ใช้กับ Notebook ดังภาพ ตัวอย่างนี้ จะเป็นลักษณะนำไฟฟ้าได้บ้าง เพราะส่วนประกอบที่เป็นแผ่นจะเป็น Epoxy ส่วนหนึ่งที่ ไม่นำไฟฟ้าเลย ถ้าจะดูกับเครื่อง SEM ทั่วๆไปจะต้องทำให้นำไฟฟ้าทั้งหมดก่อน โดย การนำไปฉาบเคลือบสารให้นำไฟฟ้า แต่เราจะไม่ฉาบสารให้นำไฟฟ้า เพราะหลังการ ทดสอบเราจะนำ RAM นี้กลับไปใช้งานต่อได้อีก

ตามภาพ RAM ด้านบน เราจะวิเคราะห์บริเวณลายปริ้นที่เสียบเชื่อมต่อกับ Slot ที่เป็นสีทอง ถ้าดูด้วยตาเปล่าก็จะมองเห็นรอยดำลางๆ เราจะวิเคราะห์จุดนี้ ส่วนการดูลายวงจร รอยบัดกรี ให้ดูบทความที่เกี่ยวข้องตามลิงค์ด้านล่าง บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ และอุปกรณ์ไฟฟ้า-อิเล็กทรอนิกส์  คลิก

ตามภาพเป็นภาพที่ถ่ายลายปริ้น PCB ที่มีปัญหาพบว่ามีคราบสกปรกติดอยู่บนผิว ถ่ายด้วย BEI Dedector ภาพแบบ COMPO ซึ่งสามารถแยกความแตกต่างและเฉดสีวัสดุออกตาม Atomic No.(Z) สามารถเช็คเพสของวัสดุแบบง่ายๆได้ เช็คการจับตัวของวัสดุ พอบอกคร่าวๆ ว่า วัสดุที่มีโทนสีมืดมี Z ต่ำและวัสดุที่มีโทนสีสว่างมี Z สูง (มวลอะตอม Atomic No.หรือ Z)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM  ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร  ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ภาพล่างนี้เป็นภาพเดียวกันกับด้านบน แต่เรากลับโทนสีให้ตรงกันข้าม โดยโทนสีสว่าง จะปรับเป็นโทนมืด และมืดออกโทนสว่างแทน วัตุประสงค์เพื่อจะได้เห็นตำหนิได้ชัดเจน

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM  ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร  ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM  ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร  ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM  ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร  ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
เราเพิ่มกำลังขยายขึ้นเป็น 100 เท่าเพื่อดูตำหนิให้ชัดขึ้น พร้อมทั้งใช้โปรแกรม SemAfore วัดขนาดความกว้างลายปริ้นได้ประมาณ 470 um และระหว่าง Gap วัดได้ประมาณ 200 um(ไมโครเมตร)

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM  ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร  ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง ถ่ายโดย www.dosem24hr.com เราเพิ่มกำลังขยายขึ้นเป็น 350เท่า เพื่อจะให้เห็นเฉพาะลายปริ้น และคราบสกปรก ที่เป็นตำหนิ และตำแหน่งนี้เอง เราจะทำการวิเคราะห์ธาตุด้วยเครื่อง EDS/EDX กัน และจะสังเกตุได้ว่าจะมีรอยขูดขีดบนลายปริ้น PCB เป็นรอยที่เราเสียบเข้าออกกับ Slot นั้นเอง จะเป็นรอยยาวเส้นตรงแนวตั้ง ตามภาพด้านซ้ายของตำหนิ

จากตำแหน่งภาพด้านบนเรามาวิเคราะห์ธาตุกันต่อ แบบพื้นที่ (Area analysis)
วิเคราะห์ธาตุเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis
ผลวิเคราะห์เชิงคุณภาพ
เราจะได้ผลว่ามีธาตุหรือสาร C คาร์บอน,O ออกซิเจน Br โบรมีน, Si ซิลิกอน, Ni นิเกิล,Cu ทองแดง,Au ทอง อยู่บนพื้นที่ที่เราวิเคราะห์ ตามภาพด้านบน
บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก

กราฟสเป็กตรัมอีกแบบ ซึ่งผลเหมือนด้านบน ต่างกันแค่การแสดงสีพื้น

จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพ เราทราบแล้วว่ามีธาตุอะไรบ้าง แต่ยังไม่ทราบว่า มีปริมาณธาตุใดๆอยู่เท่าไร เราจะมาวิเคราะห์เชิงปริมาณกันต่อ

วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %)หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic% และจะได้ ค่าธาตุ อยู่ในรูปแบบคอมพาวด์ออกไซด์Compound % การอ่านผลยกตัวอย่าง จะได้ปริมาณ Au ทอง 49.74% และ Au2O3 55.80%

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก

การแสดงผลเชิงปริมาณในรูปแบบกราฟแท่ง

การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ)
จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ เนื่องจากเราเลือกใช้วิเคราะห์ทั้งภาพ(Area) ไม่ได้เลือกใช้วิธียิงเป็นจุด (Point) ทำให้ผลที่ได้คือผลที่ได้ทั้งหมดที่เราเห็นตามภาพ ถ้า เราจะใช้วิธีการยิงเป็นจุด เพือจะให้ทราบตำแหน่งธาตุก็ได้ แต่อาจจะต้องยิงหลายจุด จะมีวิธี การหาตำแหน่งของธาตุแบบรวดเร็ว ดูการกระจายตัว เช็คเพสที่เรียกว่า Mapping ตามผล ด้านล่างเราก็จะทราบ ตำแหน่งแต่ละธาตุว่าอยู่ส่วนใหนของตัวอย่างได้
การอ่านผลยกตัวอย่างตรงรอยตำหนิ เราพบว่าเป็นตำแหน่ง C, O และ Ni และตำแหน่ง นี้จะไม่มี Au และ Br แสดงคราบนี้ทำให้ Au หลุดออกไปจนเห็นชั้นที่อยู่ต่ำลงไปคือ Ni หรือบอกได้ว่า Au อยู่บริเวณผิวบนสุด และ Br ,Cu

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

ตามภาพล่าง เราลดกำลังขยายลง เพื่อต้องการวิเคราะห์ธาตุตามพื้นที่ที่กว้าง ขึ้น โดยจะให้วิเคราะห์บริเวณ Gap ด้วย

วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis กับพื้นที่ที่กว้างขึ้น

การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %) หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic%  การอ่านผลยกตัวอย่างจะได้ปริมาณ Au ทอง 73.68% ที่มากขึ้น
บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก

การแสดงผลเชิงปริมาณในรูปแบบกราฟแท่ง

การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ)
การอ่านผลยกตัวอย่างตรงรอย Gap พบว่าเป็นตำแหน่ง C, O และ Br ที่ค่อนข้างเยอะ บริเวณลายปริ้นจะเป็นตำแหน่ง Au,Ni และ Cu

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

การวิเคราะห์ดูการกระจายตัวตามเส้นแนว แบบ Speed Line Scan (เชิงคุณภาพ)

เราสามารถกำหนดเส้นบนตำแหน่งที่เราสนใจต้องการ ทราบว่ามีอะไรณ.ตำแหน่งที่เรา ลากเส้นผ่านได้
ตามภาพล่างเส้นสีเหลืองคือเส้นที่เรากำหนดที่เราจะทำ Line Scan ซ้ายสุดคือจุดเริ่ม

ผลวิเคราะห์ตามเส้นลากผ่าน ผลตามภาพด้านล่าง ตามภาพล่างแนวแกน X คือระยะตามที่เรากำหนดเส้นสแกน
ส่วนแกน Y เป็นค่า Cts. (Count per Sec.)
บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : การทำ Line Scan แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

การรวมผล Speed Line Scan เข้ากับภาพ ตามภาพเป็นการรวมภาพ,Au และ Br เข้าด้วยกัน

การวิเคราะห์ดูการกระจายตัวตามเส้นแนว แบบ Quant Line Scan (เชิงปริมาณ)
เราสามารถกำหนดเส้นบนตำแหน่งที่เราสนใจต้องการ ทราบว่ามีอะไรณ.ตำแหน่งที่เรา ลากเส้นผ่านได้
ตามภาพล่างเส้นสีเหลืองคือเส้นที่เรากำหนดที่เราจะทำ Line Scan ซ้ายสุดคือจุดเริ่ม

ผลวิเคราะห์ตามเส้นลากผ่าน ผลตามภาพด้านล่าง ตามภาพล่างแนวแกน X คือระยะตามที่เรากำหนดเส้นสแกน ส่วนแกน Y เป็นค่า Element%
บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : การทำ Line Scan แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

การรวมผล Quant Line Scan เข้ากับภาพ ตามภาพเป็นการรวมภาพ,Au และ Br เข้าด้วยกันและแกน Y บอกค่า Element% 0-80% ตามปริมาณที่มีมากสุด

ตามภาพเราเปลี่ยนจุดการวิเคราะห์ บริเวณที่มีคราบสกปรกอีกจุดบนแผ่น PCB

จากตำแหน่งภาพด้านบนเรามาวิเคราะห์ธาตุกันต่อ แบบพื้นที่ (Area analysis)

วิเคราะห์ธาตุเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis
ผลวิเคราะห์เชิงคุณภาพ
เราจะได้ผลว่ามีธาตุหรือสาร C คาร์บอน,O ออกซิเจน Br โบรมีน, Si ซิลิกอน, Fe เหล็ก,Cu ทองแดง,
Pb ตะกั่ว,Sn ดีบุก,As สารหนู Cd แคดเมียม,Zn สังกสี,Cl ครอรีน อยู่บนพื้นที่ที่เราวิเคราะห์ตามภาพด้านบน
บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก


กราฟสเป็กตรัมอีกแบบ ซึ่งผลเหมิอนด้านบน ต่างกันแค่การแสดงสีพื้น (ภาพล่าง)

วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %)หรืออีกชื่อ Con%
(concentration%) และ Atomic%  การอ่านผลยกตัวอย่างจะได้ปริมาณ Cd แคดเมียม 0.12 %

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก

สรุป
ข้อดีการวิเคราะห์แบบไม่ทำลายตัวอย่าง โดยการไม่ฉาบเคลือบทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆ จะทำให้ผลการวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณมีความแม่นยำ เพราะถ้าเรา ฉาบเคลือบคาร์บอนก็จะทำให้ %คาร์บอน C มีความเที่ยงตรงจะลดลง ตรงกัน ข้ามถ้าเราฉาบเคลือบด้วยทอง การวิเคราะห์ธาตุเบา เช่น C,O,N อื่นๆก็จะมีความ เที่ยงตรงลดลงเช่นกัน ไม่เฉพาะฉาบทองเท่านั้นที่จะทำให้ % ธาตุเบาขาดความ แม่นยำ ยังมีการฉาบเคลือบด้วยพาราเดียม แพทตินัม หรือไททาเนียมเป็นต้น อีกปัญหาหนึ่งคือการเกิดการพีคเหลื่อม Overlap กัน เช่นการฉาบเคลือบทอง จะทำให้ ตัวอย่างที่เราวิเคราะห์ถ้ามี Sซัลเฟอร์ จะทำให้ปริมาณ S ขาดความแม่น ยำ เพราะพีค S อยู่ติดและเหลื่อมกันกับ Au ถึงแม้ว่าจะมีโปรแกรมการชดเชยบอก ให้โปรแกรมทราบว่าเราฉาบเคลือบตัวอย่างด้วยสารใดๆ ก่อนประมวลผลก็ตามที ก็ยังจะมีความคลาดเคลื่อนของผลอยู่บ้าง แต่ก็ยังดีกว่าไม่ชดเชย(compensate) ดีที่สุดก็คือการไม่ฉาบเคลือบ
ข้อดี อีกข้อภาพที่ถ่ายเราถ่ายเป็นภาพ BEI COMPO มันสามารถแยกความแตก ต่างสารของตัวอย่าง ตามเฉดสีตามมวลอะตอม (Atomic No.,Z)
ข้อเสีย ภาพ BEI COMPO ที่ได้แบบนี้จะมีความคมชัดน้อยกว่าภาพ SEI

***************************************************

สุดท้ายขอขอบคุณ Do SEM ที่เปิดพื้นที่ให้ มากๆครับ

น้อมรับทุกคำชี้แนะครับ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com
หรือมาพบปะพูดคุยได้ตามประสาได้ที่ BigC จ.สุรินทร์ (แอร์ฟรี 555 จริงๆนะครับ) หรือมา
ติดตามเป็นเพื่อนผ่านโซเชียลเน็ตเวิร์ค ตามลิงค์ด้านล่างเลยครับ
http://www.facebook.com/JeolOxfordInstruments?ref=hl
*********************************************************************
PCB,แผ่นPCB,แผ่นปริ้น,วิเคราะห์PCB,วิเคราะห์แผ่นปริ้น,ทดสอบPCB,ทดสอบวัสดุไฟฟ้า, ทดสอบวัสดุอิเล็กฯ,Contamination,วิเคราะห์คราบสกปรก

บทความน่าสนใจอื่นๆ

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด

Advertisements

สาละ สาละลังกา สาละอินเดีย หรือ ลูกปืนใหญ่ (Cannonball,Sal Tree)

สาละ สาละลังกา สาละอินเดีย หรือ ลูกปืนใหญ่ (Cannonball,Sal Tree)

สาละ เป็นไม้ต้นขนาดกลางถึงขนาดใหญ่  เรือนยอดทรงกลมหรือรูปไข่ หนาทึบ
เปลือกสีน้ำตาลแกมเทา แตกเป็นร่องและสะเก็ด ใบเดี่ยว เรียงเวียนสลับ เป็นกระจุก
ที่ปลายกิ่ง รูปขอบขนานถึงรูปใบหอกแกมรูปไข่ กว้าง 5-8 เซนติเมตร ยาว12-25
เซนติเมตร ปลายใบแหลม โคนใบสอบหรือมน ขอบใบจักตื้น ใบหนา ดอกสีชมพู
อมเหลืองหรือแดง ด้านในสีม่วงอ่อนอมชมพู มีกลิ่นหอมมาก ออกดอกเป็นช่อแบบ
ช่อกระจะขนาดใหญ่ตามลำต้น ช่อดอกยาว 30-150 เซนติเมตร ปลายช่อโน้มลง
กลีบดอกหนา 4-6 กลีบ กลางดอกนูน สีขนสั้นสีเหลืองคล้ายแปรง เกสรเพศผู้เป็น
เส้นยาวสีชมพูแกมเหลืองจำนวนมาก ทยอยบานจากโคนไปหาปลายช่อ นานเป็น
เดือน ดอกบานเต็มที่กว้าง 5-10 เซนติเมตร ผลแห้ง ทรงกลมใหญ่ ขนาด 10-20
เซนติเมตร เปลือกแข็ง สีน้ำตาลปนแดง ผลสุกมีกลิ่นเหม็นมีเมล็ดจำนวนมากรูปไข่
ที่มา : วิกิพีเดีย

บทความนี้เราจะนำเอาเกสร (Pollen) ของดอกสาละมาถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์
อิเล็กตรอนไมโครสโคป SEM กำลังขยายสูง

ภาพถ่ายระยะใกล้ ด้วยกล้องถ่ายภาพดิจิตอลแต่ก็ยังไม่สามารถจะมองเห็นเกสร
(Pollen)ได้ชัดเจน

เราจึงนำส่วนที่เป็นเกสรดอกสาละมาถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ แทน
ถ้าเราจะถ่ายด้วยกล้องนี้ จะมีอยู่ 2 โหมดที่ให้เลือกถ่ายคือ LV SEM และHV SEM
เราจะเลือกถ่ายโหมด HV SEM ซึ่งวิธีนี้จะต้องทำให้เกสรดอกสาละนำไฟฟ้าก่อน
ด้วยการนำไปฉาบเคลือบทองด้วยเครื่อง Sputter coater

ตามภาพคือส่วนที่เป็นเกสรดอกสาละที่ฉาบเคลือบด้วยทอง ที่วางบน STUB หรือ
แท่นวางตัวอย่างขนาด 10×10 mm.

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 35 เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ (ภาพด้านข้าง)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 35 เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ (ภาพด้านบน)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 150 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 75 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 150 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 1000 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 1500 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 2000 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 3500 เท่า สเกล 5 um (ไมครอน ) หรือ 0.005 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 1000 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และส่วนหนึ่งของเกสรดอกสาละ ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

โอกาสหน้าจะนำเกสรดอกไม้อื่นๆมาถ่ายดู ติดตามกันนะค่ะ ว่าจะเป็นดอกอะไร

*************************************************************
ดอกสาละ,เกสรดอกไม้,เกสรสาละ,เกสรดอกสาละ,pollen,sal pollen,cannonball pollen

 

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด

 

Failure Analysis วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ด้วยเครื่อง SEM,EDS

Failure Analysis วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ด้วยเครื่อง SEM,EDS

การวิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ที่เราสามารถวิเคราะห์ได้ด้วยเครื่อง SEM,EDS นั้นเรา
สามารถวิเคราะห์วัสดุได้ตั้งแต่ขบวนการผลิต ,ผ่านการทดสอบ หรือผ่านการใช้งานมาบ้าง
แล้วนั้น แม้แต่งานด้าน R&D,QC,QA,FA Lab ก็ล้วนสามารถใช้การวิเคราะห์ได้ด้วยวิธี
การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM ศึกษาด้านกายภาพและอนุภาค วัดขนาดอนุภาค
ศึกษาเพสวัสดุด้วย BEI Detector (แยกเพสตามอะตอมมิกนัมเบอร์ Z) และอื่นๆ

ส่วนเครื่องวิเคราะห์ธาตุEDS ใช้ศึกษาหาธาตุในวัสดุเชิงคุณภาพ (Qualitative Analysis)
หาปริมาณธาตุในวัสดุเชิงปริมาณ (Quantitative Analysis) ศึกษาการกระจายตัวของ
ธาตุในวัสดุ หาตำแหน่งธาตุ เช็คเพสด้วยวิธีการทำ Mappinq หรือ Line Scan เป็นต้น

ตามภาพเป็นภาพที่ถ่ายวัสดุ ที่มีปัญหาพบว่ามีคราบสกปรกติดอยู่บนผิว ที่อยู่ด้านขวา
เราจะทำการถ่ายภาพเป็น 3 แบบ 3โหมดเพื่อเปรียบเทียบ
บทความที่เกี่ยวข้องโหมดภาพ SEM :  คลิกค่ะ

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
ตัวอย่างไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองเพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นภาพที่ถ่ายวัสดุ ที่มีปัญหาพบว่ามีคราบสกปรกติดอยู่บนผิว ถ่ายด้วย BEI Dedector
ภาพแบบ COMPO ซึ่งสามารถแยกความแตกต่างและเฉดสีวัสดุออกตาม Atomic No.(Z) สามารถ
เช็คเพสของวัสดุแบบง่ายๆได้ เช็คการจับตัวของวัสดุ พอบอกคร่าวๆว่า วัสดุที่มีโทนสีมืดมี Z ต่ำ
และวัสดุที่มีโทนสีสว่างมี Z สูง

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ BEI COMPO
ตัวอย่างไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองเพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นภาพที่ถ่ายวัสดุ ที่มีปัญหาพบว่ามีคราบสกปรกติดอยู่บนผิว ถ่ายด้วย BEI Dedector
ภาพแบบ TOPO ซึ่งสามารถแยกความแตกต่างสูงต่ำของผิววัสดุ  เราจะทราบได้ว่าบริเวณด้านขวา
ภาพจะมีความสูงกว่า จะเป็นลักษณะมีคราบมีติด

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ BEI TOPO
ตัวอย่างไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองเพื่อให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

การวิเคราะห์เชิงคุณภาพ

หลังจากเราศึกษาทางกายภาพแล้ว เรามาศึกษาด้วยเครื่องวิเคราะห์ธาตุ Energy
Dispersive X-ray Spectrometer ,EDS/EDX กันต่อ
บทความที่เกี่ยวข้องการวิเคราะห์ธาตุ : คลิกค่ะ

โดยเราวิเคราะห์เชิงคุณภาพ ตามตำแหน่งภาพด้านบนที่กำลังขยาย X100 เท่า เราจะได้
สเปกตรัมตามภาพ
ซึ่งเราจะได้ผลเชิงคุณภาพ ว่ามี C คาร์บอน,O ออกซิเจน,Fe เหล็ก,Ag เงิน เป็นต้น

สเปกตรัมเชิงปริมาณอีกแบบ ทั้ง 2สเปกตรัมมีผลเชิงปริมาณเท่ากัน ต่างกันที่รูปแบบ

การวิเคราะห์เชิงปริมาณ
เชิงคุณภาพเราจะทราบว่ามี ธาตุ Element อะไรบ้างแต่มีมากน้อยกี่% เราจะไม่ทราบ
ซึ่งเราจะต้องวิเคราะห์เชิงปริมาณกันต่อ เมื่อเราวิเคราะห์เชิงปริมาณเราจะได้ผลตาม
ภาพล่าง

ซึ่งจะได้ผลแบบ Element% และแบบ Compound%

ผล Element% แบบกราฟแท่ง

การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ)

จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ เนื่องจากเราเลือกใช้วิเคราะห์ทั้งภาพ(Area)
ไม่ได้เลือกใช้วิธียิงเป็นจุด (Point) ทำให้ผลที่ได้คือผลที่ได้ทั้งหมดที่เราเห็นตามภาพ ถ้า
เราจะใช้วิธีการยิงเป็นจุด เพือจะให้ทราบตำแหน่งธาตุก็ได้ แต่อาจจะต้องยิงหลายจุด จะมีวิธี
การหาตำแหน่งของธาตุแบบรวดเร็ว ดูการกระจายตัว เช็คเพสที่เรียกว่า Mapping ตามผล
ด้านล่างเราก็จะทราบ ตำแหน่งแต่ละธาตุว่าอยู่ส่วนใหนของตัวอย่างได้

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล :
การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

การวิเคราะห์ดูการกระจายตัวตามเส้นแนว แบบ Speed Line Scan (เชิงคุณภาพ)
เราสามารถกำหนดเส้นบนตำแหน่งที่เราสนใจต้องการ ทราบว่ามีอะไรณ.ตำแหน่งที่เรา
ลากเส้นผ่านได้
ตามภาพล่างเส้นสีเหลืองคือเส้นที่เรากำหนดที่เราจะทำ Line Scan ซ้ายสุดคือจุดเริ่ม

ผลวิเคราะห์ตามเส้นลากผ่าน ผลตามภาพด้านล่าง

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล :
การทำ Line Scan แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

 

เราสามารถซ้อนภาพกับ Line Scan แต่ละธาตุได้
ตามภาพเราเอาภาพ BEI COMPO ซ้อนผล Line Scan ของธาตุ Fe (Mix Line Scan)

ตามภาพเราเอาภาพ BEI COMPO ซ้อนผล Line Scan ของธาตุ Ag (Mix Line Scan)

หรือจะซ้อนผล Line Scan ของธาตุ FeและAg เข้าด้วยกัน (Mix Line Scan)

และยังมีวิธีการหลากหลายที่ยังไม่ได้ลงรายละเอียดไว้ เช่นการเช็คเพสวัสดุแบบ
เชิงคุณภาพ Cameo,เช็คเพสแบบเชิงปริมาณ Phase Analysis, Area Measurement
ไว้ติดตามบทความต่อๆไปนะครับ

*****************************************************************
สุดท้ายขอขอบคุณ Do SEM ที่เปิดพื้นที่ให้ มากๆครับ

น้อมรับทุกคำชี้แนะครับ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com
หรือมาพบปะพูดคุยได้ตามประสาได้ที่ BigC จ.สุรินทร์ (แอร์ฟรี 555 จริงๆนะครับ) หรือมา
ติดตามเป็นเพื่อนผ่านโซเชียลเน็ตเวิร์ค ตามลิงค์ด้านล่างเลยครับ
http://www.facebook.com/JeolOxfordInstruments?ref=hl

*********************************************************************

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด

มด,มดคันไฟ ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯกำลังขยายสูง SEM

มด,มดคันไฟ ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯกำลังขยายสูง SEM

มดที่นำมาเป็นตัวอย่าง สำหรับการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM
จะต้องฉาบเคลือบทอง เพื่อให้นำไฟฟ้าก่อน มดที่เรานำมาฉาบเราฉาบแค่ 30 วินาที
กระแส 15 มิลลิแอมป์ ซึ่งฉาบเคลือบบางมาก สำหรับตัวอย่างประเภทนี้ ซึ่งจริงๆแล้ว
จะต้องฉาบนาน 2-3 นาที แล้วมดที่นำมาก็ไม่ได้ผ่านกระบวนการไล่ความชื้น โดย
จะต้องใช้เครื่อง CPD เลย เรานำมาก็เข้าเครื่อง Coater เพื่อฉาบทองเลย

เมื่อเราเราฉาบเคลือบทองบางมาก ความนำไฟฟ้าก็จะน้อยตามเราก็จะต้องถ่ายที่
Acc. kv.ต่ำๆเพื่อลดการ charging up โดยเราเซ็ท Acc. 5kv.และ Acc. 10kv.
ตามภาพเราจะสังเกตุเห็นการเกิด charging up (คายประจุ) นั้นก็คือบริเวณที่เกิด
แสงสีขาวมากๆ หรือ High contrast

กรณีนี้เราอาจไปถ่ายโหมดความเป็นสูญญากาศต่ำ LV SEM แทนก็จะได้ภาพอีก
ลักษณะหนึ่งเป็นภาพ BEI Compo ความคมชัดอาจไม่เท่าแบบฉาบเคลือบทอง
ที่เป็นภาพแบบ SEI แต่ LV SEM ก็จะไม่เกิดการ charging up (คายประจุ) บางที
แล้วเมื่อเราถ่ายที่กำลังขยายต่ำๆ เราถ่ายที่ LV โหมดภาพน่าจะสวยไปอีกแบบ

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ท่านอนหงาย ถ่ายหน้าตรง 5555 (เหมือนถ่ายบัตรปชช.)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 10kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายบริเวณปาก
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายบริเวณหนวด
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายโคนหนวดมด
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 750 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายบริเวณตา
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 1000เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายช่วงโคนขา
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายขา
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 500 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายบริเวณปลายขา
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 2000 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน ) หรือ 0.01 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

ตามภาพเป็นมด,มดคันไฟ ส่วนขยายบริเวณหาง/ก้น
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 5kv (กิโลโวลท์)
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพแบบ SEI
และเห็บหมัด ฉาบเคลือบด้วยทองคำ 99.99% เพื่อให้นำไฟฟ้า (ฉาบ 30 วินาที)
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com

*****************************************************************
สุดท้ายขอขอบคุณ Do SEM ที่เปิดพื้นที่ให้ มากๆครับ ที่เปิดโอกาสให้ได้ถ่ายภาพสวยๆมาลง

น้อมรับทุกคำชี้แนะครับ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com
หรือมาพบปะพูดคุยได้ตามประสาได้ที่ BigC จ.สุรินทร์ (แอร์ฟรี 555 จริงๆนะครับ) หรือมา
ติดตามเป็นเพื่อนผ่านโซเชียลเน็ตเวิร์ค ตามลิงค์ด้านล่างเลยครับ
http://www.facebook.com/JeolOxfordInstruments?ref=hl
*********************************************************************
มด,มดแดง,มดคันไฟ,ปากมด,หนวดมด,คู่แข่งมดดำ,หางมด,ก้นมด,ขามด,ตามด,ant,ant eye

บทความน่าสนใจอื่นๆ

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด